光學(xué)粗糙度儀的產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
日期：2025-07-02 04:44
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摘要：
光學(xué)粗糙度儀是一種測(cè)量表面粗糙度和預(yù)測(cè)紙張可印刷性的儀器。與傳統(tǒng)的光學(xué)表面粗糙度測(cè)量方法相比，它速度更快、質(zhì)量更好、成本更低。該方法由Innventia開發(fā)，十多年來(lái)已被證明是評(píng)估紙張表面和打印缺陷之間相關(guān)性的一種出色測(cè)試方法。
優(yōu)勢(shì)：
快速光學(xué)方法——幾秒鐘內(nèi)即可生成測(cè)試報(bào)告
可印刷性綜合預(yù)測(cè)
低成本測(cè)量設(shè)備
廣泛的測(cè)量范圍
高分辨率CMOS攝像機(jī)
易于安裝和啟動(dòng)
符合人體工程學(xué)，自動(dòng)化，操作簡(jiǎn)單
采用觸摸屏和用戶友好界面
輪廓測(cè)量配有帶材給料機(jī)
低維護(hù)量
尊敬的客戶：
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